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菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪
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X荧光镀层测厚仪
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菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪
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X荧光镀层测厚仪 Thick 600
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便
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X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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天瑞仪器X荧光镀层测厚仪Thick800A
保护技术指标型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个
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菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪
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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的最合适的测量仪器。
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菲希尔XULM系列 X射线荧光镀层测厚仪
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浪声 晓INSIGHT X射线荧光测厚仪 镀层测厚仪
晓INSIGHT镀层测厚仪,高性能探测器,测量低至1纳米,可测多达5层,可检测微小件、不均匀件等,一站式解决方案,免费测样,终身维护,品质无忧!
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